Użytkownik "Michoo" <m...@v...pl> napisał w wiadomości
news:ifdev8$1iv$1@news.onet.pl...
> Tu podają max 50kV/m:
> http://en.wikipedia.org/wiki/Electromagnetic_pulse#E
1

Z wykresów wygląda że przynajmniej do 300km od wybuchu natężenie pola (na
poziomie ziemi) niewiele zależy od odległości. W każdym razie na pewno nie
maleje z kwadratem odległości, a wręcz może rosnąć.
Można się chyba spodziewać, że każdy prosty kawałek drutu o długości 1m
(odpowiednio ustawiony w odległości do 300km) stanie się źródłem impulsu o
napięciu max 50kV.
Na płytce o wymiarach rzędu 10cm wystąpią różnice potencjału rzędu 5kV.
O ile dobrze pamiętam z artykułów o EMC pełny ekran bez żadnych otworów to
tłumienie (pola elektrycznego) rzędu 80dB czyli powinien obniżyć napięcie
jakieś 10k razy. Na płytce wystąpi więc różnica 0.5V co powinna przetrzymać
i być może nawet się nie zawiesić.
Ale każdy otwór w ekranie powoduje utratę jego skuteczności zaczynając od
pewnej częstotliwości. Czas narastania tego E1 podają jako 5ns. Podejrzewam,
że dla takiego impulsu nawet jeden kilkumilimetrowy otwór w ekranie (np. dla
jakiegoś LEDa) obniży jego skuteczność o 20dB lub więcej.
A jeśli przez ten otwór przechodził będzie jakiś przewód, który dalej już
nie będzie ekranowany (lub będzie słabo ekranowany) to tak jakby ekranu w
ogóle nie było.

Zastanawia mnie też, czy te 5ns jest pewną daną.
W przypadku ESD jest tak, że co zrobią lepszy oscyloskop to się okazuje że
narastanie ESD jest szybsze ;-).
W normach EMC przyjęto, że generator ESD ma dawać impuls o czasie narastania
= 1ns (bo tak wtedy zmierzono), ale już spotkałem informacje, że zmierzono
czasy narastania ESD znacznie poniżej - chyba rzędu 0.1ns.
Te 5ns zmierzono pewnie w latach 60-tych. Jakie najszybsze zbocze byli wtedy
w stanie zobaczyć ?
Jeśli czas narastania były 10 razy krótszy to zdolność wnikania przez małe
otwory byłaby 10 razy większa.
P.G.