Re: pamięć flash a trwałość urządzeń elektronicznych

eGospodarka.pl › Grupy › pl.misc.elektronika › pamięć flash a trwałość urządzeń elektronicznych › Re: pamięć flash a trwałość urządzeń elektronicznych

Path: news-archive.icm.edu.pl!news.icm.edu.pl!uw.edu.pl!newsgate.cistron.nl!newsgate.
news.xs4all.nl!194.109.133.84.MISMATCH!newsfeed.xs4all.nl!newsfeed5.news.xs4all
.nl!xs4all!feeder.news-service.com!postnews.google.com!news1.google.com!npeer01
.iad.highwinds-media.com!news.highwinds-media.com!feed-me.highwinds-media.com!n
x01.iad01.newshosting.com!newshosting.com!newsfeed.neostrada.pl!unt-exc-01.news
.neostrada.pl!unt-spo-a-01.news.neostrada.pl!news.neostrada.pl.POSTED!not-for-m
ail
From: "Dziadek" <...@...c>
Newsgroups: pl.misc.elektronika
References: <4cd7066a$0$27033$65785112@news.neostrada.pl>
<4cd84863$0$20991$65785112@news.neostrada.pl>
<4cd8626b$0$27023$65785112@news.neostrada.pl>
<s...@f...lasek.waw.pl>
Subject: Re: pamięć flash a trwałość urządzeń elektronicznych
Date: Tue, 9 Nov 2010 00:32:41 +0100
X-Priority: 3
X-MSMail-Priority: Normal
X-Newsreader: Microsoft Outlook Express 6.00.2900.5931
X-MimeOLE: Produced By Microsoft MimeOLE V6.00.2900.5994
X-RFC2646: Format=Flowed; Original
Lines: 19
Message-ID: <4cd88887$0$22802$65785112@news.neostrada.pl>
Organization: Telekomunikacja Polska
NNTP-Posting-Host: 83.19.29.114
X-Trace: 1289259143 unt-rea-b-01.news.neostrada.pl 22802 83.19.29.114:62993
X-Complaints-To: a...@n...neostrada.pl
Xref: news-archive.icm.edu.pl pl.misc.elektronika:598899
[ ukryj nagłówki ]
>
> A czy przy tak niewielkiej stopie błędów i takim okresie czasu nie
> może to mieć jakiejś kosmicznej przyczyny? Albo wewnątrz-ziemskiej?
> Na jakiś poziom promieniowania jednak wszystko jest narażone. Kilka
> lat temu NASA ogłaszała, że skupuje stare PC/XT -- w celu pozyskania
> procesorów i8086. Bo te nowe konstrukcje, z wąskimi ścieżkami, to
> nię marnie nadają do kosmicznych zastosowań. ATmega chyba też taki
> mało kosmiczny.

To nie to - wysoko nad Ziemią i w kosmosie chodzi o inne efekty - głównie
SEU (Single Event Upset).
Nisko nad Ziemią i na powierzchni efekty są małe i zauważalnie wpływają na
MTBF dopiero, gdy masz dużo pamięci RAM i geometrię 130 nm lub mniejszą.

>
> --
> Jarek