Jest Fri, 12 Jul 2013 18:51:49 +0100, AlexY pisze:
> Użytkownik Krzysztof Gajdemski napisał:
>> Jest Thu, 11 Jul 2013 14:01:31 +0100, AlexY pisze:
>>> Użytkownik Jarosław Sokołowski napisał:
>>> [..]
>>>> technologia trwałych i wygodnych złącz dwustykowych została już dawno
>>>> temu opanowana.
>>> Ale to księgowi zdecydowali że lepiej dać jedno złącze do wszystkiego
>>> zamiast kilku, mniej kabli się plącze itd, ma to swoje plusy, tylko co
>>> komu przeszkadzało ze 3 razy grubsze złącze miniUSB które było wręcz nie
>>> do zarżnięcia?
>> Jak najbardziej było do zarżnięcia. Dlatego właśnie wymagania odnośnie
>> trwałości złącza Micro-USB zostały podniesione. Np. wytrzymałość
>> mechaniczna rzędu 10000 operacji włożenia/wyciągnięcia (Mini-USB dwa
>> razy mniej):
>> http://www.usb.org/developers/devclass_docs/CabConn2
0.pdf
> Ty o teorii, ja o praktyce.

Czekam w takim razie na statystki, które zadadzą kłam powyższej teorii.
Tzw. ,,osobiste przekonanie'' mi jednak nie wystarczy.

>>> Ano przeszkadzało bo ludzie za długo telefonów używali
>>> bez wymiany, a jak się zepsuł to naprawa gwarancyjna, a teraz? pady
>>> wyrwane - BER, trzeba iść kupić nowy telefon.
>> Kolejny spisek!
> Prawdopodobnie, nie został jeszcze wykryty jak ten żarówkowy (i po
> tamtej lekcji raczej nic już nie pozwolą wykryć) ale jestem za.

Obawiam się, że aioe może tu w niczym nie pomóc. Przyjdą nad ranem i
zakneblują usta ostatniemu piewcy prawdy.

k.
--
Krzysztof Gajdemski | songo (at) debian.org.pl | KG4751-RIPE
Registered Linux User #133457 | BLUG Registered Member #0005
PGP key at: http://s.debian.org.pl/gpg/gpgkey * ID: 3C38979D
Szanuję was wszystkich, którzy pozostajecie w cieniu - Snerg