-
21. Data: 2013-01-16 13:45:47
Temat: Re: Test połączeń pomiędzy układami
Od: Michoo <m...@v...pl>
On 16.01.2013 13:25, Michoo wrote:
>
> W praktyce istnieje jeszcze coś takiego jak zwarcie rezydencyjne
argh! autokorekta. Rezystancyjne oczywiście.
I jeżeli testujemy też ewentualne uszkodzenia buforów to różne problemy
time related - wolne (lub brak) przejścia w którąś stronę. (Np z 0 na 1
szybko a z 1 na 0 10 razy wolniej).
--
Pozdrawiam
Michoo
-
22. Data: 2013-01-16 14:00:39
Temat: Re: Test połączeń pomiędzy układami
Od: Stachu Chebel <s...@g...com>
On 16 Sty, 13:37, Elektrolot <e...@N...pl> wrote:
> W dniu 2013-01-16 13:11, Marek pisze:
>
>
>
>
>
>
>
>
>
>
>
> > Użytkownik "Stachu Chebel" <s...@g...com> napisał w wiadomości
> >news:dd688333-abc2-42d7-847c-49c810451a97@c16g2000y
qi.googlegroups.com...
> > On 16 Sty, 12:16, Elektrolot <e...@N...pl> wrote:
> >> W dniu 2013-01-16 11:22, Stachu Chebel pisze:
>
> >> > Masz następujące przypadki:
>
> >> > 1) Połączenie jest OK
> >> > 2) Przerwa w połączeniu
> >> > 3) Zwarcie do VCC
> >> > 4) Zwarcie do GND
> >> > 5) Zwarcie pomiędzy liniami
>
> >> > Testując metodą zerojedynkową 2 i 3 mogą dać ten sam wynik. Może też
> >> > się zdarzyć, że 2 i 4 dadzą ten sam wynik. 1 i 5 na pojedyńczym bicie
> >> > też mogą dawać te same rezultaty. Ale to da się wyczaić testując
> >> > wszystkie możliwe kombinacje 2-ch bitów podając na port różne wartości
> >> > bitów.
> >> > Wniosek: 2,3 i 4 w Twoim testerze mogą być nierozróżnialne.
>
> >> Kompletnie się nie zgadzam. Przesuwanie jedynki i testowanie wszystkich bitów
jest jak najbardziej
> >> wystarczające.
> >> Jesteś w stanie podać chociaż jeden przykład, kiedy taki test będzie
niepoprawny?
>
> >> Przypadek 5: Dajesz na n-ty bit "0", następnie "1" podczas gdy na
> >> bicie n+1 z którym jest zwarty jest podane "0".
> >> Na odczycie zawsze w takim przypadku masz "0". Pytanie: czy bit n jest
> >> zwarty z bitem n+1, czy bit n jest zwarty do GND?
>
> > W następnym kroku stwierdzisz jaka jest przyczyna tego błędu, kiedy na bicie n+1
> > będzie wystawiona 1-ka, a na bicie n-tym z powrotem 0:
> > 1. gdy jednoczesnie na na bicie n-tym i n+1 będzie 0 lub 1, to zwarcie linii 'n'
i 'n+1'
> > 0 lub 1: bo bilansowy stan zależny od tego, czy bit wyjściowy n-ty, logicznie
w układzie
> > ustawiony na 0, mimo że 'podniesiony' do 1 z powodu zwarcia linii z bitem
wyjściowym
> > n+1 będzie w stanie wymusić stan 0, czy też bit wyjściowy n+1 (ustawiony na
1), mimo
> > że obciążony bitem wyjściowym n-tym (ustawionym na 0) będzie w stanie wymusić
stan 1
> > (kwestia wydajności prądowej portów wyjściowych). Tak czy tak, jeśli stany
bitów n i n+1
> > będą zgodne, to znaczy ze jest zwarcie linii n i n+1.
>
> A co w przypadku gdy oba bity będą zwarte do masy lub zwarte między sobą i jeden do
masy?
> Też otrzymasz dwa zera. Chyba że ten stan też traktujesz jako po prostu zwarcie.
>
> Najprościej zapodać wszystkie 256 kombinacji i po sprawie.
Jakie 256?! Będzie ich tylko 28!!
-
23. Data: 2013-01-16 14:03:33
Temat: Re: Test połączeń pomiędzy układami
Od: Stachu Chebel <s...@g...com>
On 16 Sty, 13:25, Michoo <m...@v...pl> wrote:
> On 16.01.2013 11:22, Stachu Chebel wrote:
>
>
>
> > Marek napisał(a):
> >> Witajcie.
> >> Mam do napisania program testujacy
>
> Testowanie tego na krzemie (czy na PCB) to cała dziedzina nauki, tu jak
> jest 8 pinów to ja bym się nawet nie zastanawiał, tylko puścił wszystkie
> 256 kombinacji - program testowy napisze się szybciej niż post na grupę,
> a czas testu pomijalnie mały.
>
Kombinacji będzie 28, a nie 256.
-
24. Data: 2013-01-16 14:35:54
Temat: Re: Test połączeń pomiędzy układami
Od: "Marek" <t...@f...kuku.pl>
Użytkownik "Elektrolot" <e...@N...pl> napisał w wiadomości
news:50f6998f$0$1296$65785112@news.neostrada.pl...
>W dniu 2013-01-16 12:29, Stachu Chebel pisze:
>> Przypadek 5: Dajesz na n-ty bit "0", następnie "1" podczas gdy na
>> bicie n+1 z którym jest zwarty jest podane "0".
>> Na odczycie zawsze w takim przypadku masz "0". Pytanie: czy bit n jest
>> zwarty z bitem n+1, czy bit n jest zwarty do GND?
>
> Założyłem że test ma tylko dwa wyniki: pozytywny i negatywny.
> Może autor się wypowie, czy chce wykrywać konkretny przypadek (zwarcia, przerwa).
Test ma wykrywać przerwy w połączeniach, zwarcia do masy (plusa?), zwarcia pomiędzy
liniami,
ale nie musi pokazywać dokładnie co jest nie tak (np. linia n zwarta z linią n+3),
ważne żeby test
podawał tylko informacje o niewłaściwym stanie pinów czytających i na podstawie tego
dało się
wywnioskować jakiego typu nieprawidłowość występuje. Test ma tylko wspomagać, a nie
wskazywać.
--
Pzdr.
Marek
-
25. Data: 2013-01-16 14:43:43
Temat: Re: Test połączeń pomiędzy układami
Od: Zbych <a...@o...pl>
W dniu 2013-01-16 14:03, Stachu Chebel pisze:
> On 16 Sty, 13:25, Michoo <m...@v...pl> wrote:
>> On 16.01.2013 11:22, Stachu Chebel wrote:
>>
>>
>>
>>> Marek napisał(a):
>>>> Witajcie.
>>>> Mam do napisania program testujacy
>>
>> Testowanie tego na krzemie (czy na PCB) to cała dziedzina nauki, tu jak
>> jest 8 pinów to ja bym się nawet nie zastanawiał, tylko puścił wszystkie
>> 256 kombinacji - program testowy napisze się szybciej niż post na grupę,
>> a czas testu pomijalnie mały.
>>
> Kombinacji będzie 28, a nie 256.
Jak będzie chciał sprawdzić wszystkie możliwe kombinacje stanów
magistrali to jak najbardziej 256.
-
26. Data: 2013-01-22 08:29:20
Temat: Re: Test połączeń pomiędzy układami
Od: "Marek" <t...@f...kuku.pl>
Użytkownik "Elektrolot" <e...@N...pl> napisał w wiadomości
news:50f69f10$0$1311$65785112@news.neostrada.pl...
>W dniu 2013-01-16 13:11, Marek pisze:
>>
>> Użytkownik "Stachu Chebel" <s...@g...com> napisał w wiadomości
>> news:dd688333-abc2-42d7-847c-49c810451a97@c16g2000yq
i.googlegroups.com...
>> On 16 Sty, 12:16, Elektrolot <e...@N...pl> wrote:
>>> W dniu 2013-01-16 11:22, Stachu Chebel pisze:
>>>
>>> > Masz następujące przypadki:
>>>
>>> > 1) Połączenie jest OK
>>> > 2) Przerwa w połączeniu
>>> > 3) Zwarcie do VCC
>>> > 4) Zwarcie do GND
>>> > 5) Zwarcie pomiędzy liniami
>>>
>>> > Testując metodą zerojedynkową 2 i 3 mogą dać ten sam wynik. Może też
>>> > się zdarzyć, że 2 i 4 dadzą ten sam wynik. 1 i 5 na pojedyńczym bicie
>>> > też mogą dawać te same rezultaty. Ale to da się wyczaić testując
>>> > wszystkie możliwe kombinacje 2-ch bitów podając na port różne wartości
>>> > bitów.
>>> > Wniosek: 2,3 i 4 w Twoim testerze mogą być nierozróżnialne.
>>>
>>> Kompletnie się nie zgadzam. Przesuwanie jedynki i testowanie wszystkich bitów
jest jak najbardziej
>>> wystarczające.
>>> Jesteś w stanie podać chociaż jeden przykład, kiedy taki test będzie niepoprawny?
>>
>>> Przypadek 5: Dajesz na n-ty bit "0", następnie "1" podczas gdy na
>>> bicie n+1 z którym jest zwarty jest podane "0".
>>> Na odczycie zawsze w takim przypadku masz "0". Pytanie: czy bit n jest
>>> zwarty z bitem n+1, czy bit n jest zwarty do GND?
>>
>> W następnym kroku stwierdzisz jaka jest przyczyna tego błędu, kiedy na bicie n+1
>> będzie wystawiona 1-ka, a na bicie n-tym z powrotem 0:
>> 1. gdy jednoczesnie na na bicie n-tym i n+1 będzie 0 lub 1, to zwarcie linii 'n' i
'n+1'
>> 0 lub 1: bo bilansowy stan zależny od tego, czy bit wyjściowy n-ty, logicznie
w układzie
>> ustawiony na 0, mimo że 'podniesiony' do 1 z powodu zwarcia linii z bitem
wyjściowym
>> n+1 będzie w stanie wymusić stan 0, czy też bit wyjściowy n+1 (ustawiony na
1), mimo
>> że obciążony bitem wyjściowym n-tym (ustawionym na 0) będzie w stanie wymusić
stan 1
>> (kwestia wydajności prądowej portów wyjściowych). Tak czy tak, jeśli stany
bitów n i n+1
>> będą zgodne, to znaczy ze jest zwarcie linii n i n+1.
>
> A co w przypadku gdy oba bity będą zwarte do masy
Jeśli bity "n" i "n+1" będą zwarte do masy, to przecie przy wystawieniu jedynki na
tych dwóch
bitach (oczywiście na każdym z osobna) nie da się uzyskać na porcie wejściowym stanu
1 i już
wiadomo, że coś jest nie tak z tymi bitami.
> lub zwarte między sobą i jeden do masy?
tak samo da się wykryć, tyle że to kwestia kolejności usuwania zwarć:
1. jeśli po usunięciu zwarcia do masy bitu "n" (zwarcie między "n" i "n+1" nadal
będzie istniało)
na bicie "n+1" będzie taki sam stan jak na "n" (może być to 0 lub 1, pisałem o
tym wcześniej
od czego ten stan może zależeć), więc przy pobudzeniu w danym kroku jedynką tylko
jednego
z tych pinów da się wykryć nieprawidłowość stanów.
2. jeśli po usunięciu zwarcia między bitami "n" i "n+1" (zwarcie jednego z bitów do
masy będzie
nadal istniało), to przy pobudzeniu jedynką zwartego do masy bitu, na porcie
wejściowym tego
bitu będzie występował stan 0, co wykryje tester. Natomiast na bicie, który
przestał być zwarty
do bitu zwartego do masy, jedynka pojawi się w oczekiwanym momencie testu.
Tak więc wykrycie rodzaju błędu(-ów) to kwestia analizy stanów bitów, ale nie w
jednym kroku
testowym, tylko we wszystkich, czyli "przelecenie" :D jedynką po wszystkich bitach.
> Najprościej zapodać wszystkie 256 kombinacji i po sprawie.
Najlepiej najprościej, ale przede wszystkim mądrze. ;)
--
Pzdr.
Marek