eGospodarka.pl
eGospodarka.pl poleca

eGospodarka.plGrupypl.misc.elektronikapamięć flash a trwałość urządzeń elektronicznychRe: pamięć flash a trwałość urządzeń elektronicznych
  • Path: news-archive.icm.edu.pl!news.icm.edu.pl!news.nask.pl!news.nask.org.pl!news.uni-
    stuttgart.de!news.belwue.de!news.osn.de!diablo2.news.osn.de!195.114.241.69.MISM
    ATCH!feeder.news-service.com!postnews.google.com!r29g2000yqj.googlegroups.com!n
    ot-for-mail
    From: shg <s...@g...com>
    Newsgroups: pl.misc.elektronika
    Subject: Re: pamięć flash a trwałość urządzeń elektronicznych
    Date: Sun, 7 Nov 2010 15:35:54 -0800 (PST)
    Organization: http://groups.google.com
    Lines: 19
    Message-ID: <d...@r...googlegroups.com>
    References: <4cd7066a$0$27033$65785112@news.neostrada.pl>
    <4cd71158$1@news.home.net.pl>
    <4cd71259$0$27038$65785112@news.neostrada.pl>
    <s...@f...lasek.waw.pl>
    NNTP-Posting-Host: 157.158.182.53
    Mime-Version: 1.0
    Content-Type: text/plain; charset=ISO-8859-2
    Content-Transfer-Encoding: quoted-printable
    X-Trace: posting.google.com 1289172954 13848 127.0.0.1 (7 Nov 2010 23:35:54 GMT)
    X-Complaints-To: g...@g...com
    NNTP-Posting-Date: Sun, 7 Nov 2010 23:35:54 +0000 (UTC)
    Complaints-To: g...@g...com
    Injection-Info: r29g2000yqj.googlegroups.com; posting-host=157.158.182.53;
    posting-account=I-P_YQoAAAA5OYA-ULbU61NLL7UHiy4J
    User-Agent: G2/1.0
    X-HTTP-UserAgent: Mozilla/5.0 (X11; U; Linux i686; en-US) AppleWebKit/534.3 (KHTML,
    like Gecko) Chrome/6.0.472.59 Safari/534.3,gzip(gfe)
    Xref: news-archive.icm.edu.pl pl.misc.elektronika:598811
    [ ukryj nagłówki ]

    On Nov 7, 10:05 pm, Jarosław Sokołowski <j...@l...waw.pl> wrote:
    > Robiliśmy diwajs na jednym z pierwszych dostępnych procesorów,
    > który takie cudo miał w środku. Zapisywał, atoli nie szło mu to
    > najlepiej. Raz się dało odczytać, innym razem nie. No to program
    > pisał to samo kilka razy w różnych miejscach. Przy odczycie wynik
    > był ustalany metodą głosowania.

    Stare EEPROM-y (w tym i flashe) miały problem z przenikaniem ładunku
    do komórek znajdujących się w tym samym wierszu, co aktualnie
    programowane. Jeżeli to był NAND-Flash, to przy odczycie też się mogły
    dziać cuda. Szczątkowe ładunki (które dostały się tam jak wyżej) w
    komórkach połączonych szeregowo mogą skutecznie zakłócać odczyt.
    Obecnie ten problem już został chyba dość mocno ograniczony, ale ze
    względu na postępującą miniaturyzację coraz większe znaczenie zaczyna
    mieć jakość dielektryka.

Podziel się

Poleć ten post znajomemu poleć

Wydrukuj ten post drukuj


Następne wpisy z tego wątku

Najnowsze wątki z tej grupy


Najnowsze wątki

Szukaj w grupach

Eksperci egospodarka.pl

1 1 1

Wpisz nazwę miasta, dla którego chcesz znaleźć jednostkę ZUS.

Wzory dokumentów

Bezpłatne wzory dokumentów i formularzy.
Wyszukaj i pobierz za darmo: